ZEISS Jena Interferential Messmikroskop
ZEISS Jena Interferential Messmikroskop Measuring Microscope Interferometer Überprüfen der Flache, Sferische, Zilindrische oder Spezial Flache mit Interferenz Method. Ja, der Fotoaufsatz wechseln nach eine Dig. Kamera ich denke nicht zu kompliziert ist. Important Technical parameters: Alles in Katalogblatter ...
Wien, Wien
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